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設計收斂

鎖定
設計收斂(英語:Design closure)是集成電路設計過程中,反覆設計、調整設計細節,以使目標電路逐漸滿足一系列設計約束的過程。
中文名
設計收斂
外文名
Design closure

設計收斂簡介

集成電路設計的每個步驟(例如靜態時序分析佈局佈線等)都是極其複雜的過程,並形成了若干專門的學科進行研究。

設計收斂集成電路設計

集成電路設計(英語:Integrated circuit design, IC design),根據當前集成電路的集成規模,亦可稱之為超大規模集成電路設計VLSI design),是指以集成電路、超大規模集成電路為目標的設計流程。
集成電路設計通常是以“模塊”作為設計的單位的。例如,對於多位全加器來説,其次級模塊是一位的加法器,而加法器又是由下一級的與門非門模塊構成,與、非門最終可以分解為更低抽象級的CMOS器件。
從抽象級別來説,數字集成電路設計可以是自頂向下的,即先定義了系統最高邏輯層次的功能模塊,根據頂層模塊的需求來定義子模塊,然後逐層繼續分解;設計也可以是自底向上的,即先分別設計最具體的各個模塊,然後如同搭積木一般用這些最底層模塊來實現上層模塊,最終達到最高層次。在許多設計中,自頂向下、自底向上的設計方法學是混合使用的,系統級設計人員對整體體系結構進行規劃,並進行子模塊的劃分,而底層的電路設計人員逐層向上設計、優化單獨的模塊。最後,兩個方向的設計人員在中間某一抽象層次會合,完成整個設計。 [1] 

設計收斂靜態時序分析

靜態時序分析(英語:Static Timing Analysis, STA),或稱靜態時序驗證,是電子工程中,對數字電路的時序進行計算、預計的工作流程,該流程不需要通過輸入激勵的方式進行仿真。
傳統上,人們常常將工作時鐘頻率作為高性能的集成電路的特性之一。為了測試電路在指定速率下運行的能力,人們需要在設計過程中測量電路在不同工作階段的延遲。此外,在不同的設計階段(例如邏輯綜合佈局佈線以及一些後續階段)需要對時間優化程序內部進行延遲計算(Delay calculation)。儘管可以通過嚴格的SPICE電路仿真來進行此類時間測量,但是這種方法在實用中耗費大量時間。靜態時序分析在電路時序快速、準確的測量中扮演了重要角色。靜態時序分析能夠更快速地完成任務,是因為它使用了簡化的模型,而且它有限地考慮了信號之間的邏輯互動。靜態時序分析在最近幾十年中,成為了相關設計領域中的主要技術方法。
靜態時序分析的最早描述之一是基於1966年的計劃評核術。它的一些更現代的版本和算法則出現於1980年代前期。 [2] 

設計收斂佈局

佈局(英語:placement)是電子設計自動化中的一個重要步驟,在這過程中會把電路元件安置在指定面積的芯片上進行物理設計的流程。如果電路的佈局存在設計不良,那麼集成電路芯片的性能將會受到影響甚至部分失靈或嚴重的產生故障,而且會因為納米級別的微電路連線設計得不到優化(對連線的配置稱為佈線),導致芯片的製造效率降低甚至增加了不良品的比率。因此,電路的佈局人員必須考慮到對多個參數的優化,以使電路成品能夠符合預定的性能要求。 [2] 

設計收斂時序收斂

時序收斂(英語:Timing closure)是現場可編程邏輯門陣列專用集成電路集成電路設計過程中,調整、修改設計,從而使得所設計的電路滿足時序要求的過程。為了完成上述過程,工程師常常需要在電子設計自動化工具輔助下工作。“時序收斂”一詞有時也用於表達這些要求最終被滿足的狀態。 [2] 
參考資料
  • 1.    Electronic Design Automation For Integrated Circuits Handbook, by Lavagno, Martin, and Scheffer, ISBN 0-8493-3096-3
  • 2.    Static Timing Analysis for Nanometer Designs, by R. Chadha and J. Bhasker, ISBN 978-0-387-93819-6, Springer, 2009.