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被測系統
鎖定
- 中文名
- 被測系統
- 外文名
- System under test
- 簡 寫
- SUT
- 領 域
- 計算機
被測系統簡介
被測系統被測器件
被測器件(英語:device under test,DUT)或被測裝置,又稱在測單元或被測部件(unit under test,UUT),常用於表示正處於測試階段的工業產品。
在半導體測試中,DUT表示晶圓或最終封裝部件上的特定管芯小片。利用連接系統將封裝部件連接到手動或自動測試設備(ATE),ATE會為其施加電源,提供模擬信號,然後測量和估計器件得到的輸出,以這種方式測定特定被測器件的好壞。
對於晶圓來説,使用者需要將ATE用一組顯微針連接到一個個獨立的DUT(晶圓小片)。若晶圓已被切割成小片並封裝,我們可以用ZIF插座(零插拔力插座)將ATE連接到DUT(管殼)上。
更多的情況下,DUT用於表示任何被測電子裝置。例如,裝配線下線的手機中的每一芯片都會被測試,而手機整機會以同樣的方式進行最終的測試,這裏的每一部手機都可以被稱作DUT。
被測系統軟件測試
軟件測試(英語:software testing),描述一種用來促進鑑定軟件的正確性、完整性、安全性和品質的過程。據此,您可能會想,軟件測試永遠不可能完整的確立任意電腦軟件的正確性。然而,在可計算理論(計算機科學的一個支派)一個簡單的數學證明推斷出下列結果:不可能完全解決所謂“死機”,指任意計算機程序是否會進入死循環,或者罷工併產生輸出問題。換句話説,軟件測試是一種實際輸出與預期輸出間的審核或者比較過程。
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