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https://baike.baidu.hk/item/分析電子顯微鏡/6761917
分析電子顯微鏡
鎖定
分析電子顯微鏡是由
透射電子顯微鏡
、
掃描電子顯微鏡
和
電子探針
組合而成的多功能的新型
儀器
。
中文名
分析電子顯微鏡
外文名
analytical electron microscope
結 構
透射電子顯微鏡
、
掃描電子顯微鏡
、
電子探針
功 能
獲得透射電子圖像、掃描透射電子圖像、
二次電子
圖像等
analytical electron microscope;
AEM
是由
透射電子顯微鏡
、
掃描電子顯微鏡
和
電子探針
組合而成的多功能的新型
儀器
。其功能有:可獲得透射電子圖像、掃描透射電子圖像、
二次電子
圖像、
背散射電子
圖像和
X射線
圖像,可用X射線
能譜
和
電子能譜
進行微-微區成分分析,用多種
衍射
技術進行
晶體結構分析
、
粒度
分析和
陰極發光
觀察等。在高分子材料科學中用於分析結晶材料中的缺陷和雜質。
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自己的神7
(2022-07-21)
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