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X射線熒光光譜法
鎖定
當照射原子核的X射線能量與原子核的內層電子的能量在同一數量級時，核的內層電子共振吸收射線的輻射能量後發生躍遷，而在內層電子軌道上留下一個空穴，處於高能態的外層電子跳回低能態的空穴，將過剩的能量以X射線的形式放出，所產生的X射線即為代表各元素特徵的X射線熒光譜線。其能量等於原子內殼層電子的能級差，即原子特定的電子層間躍遷能量。只要測出一系列X射線熒光譜線的波長，即能確定元素的種類；測得譜線強度並與標準樣品比較，即可確定該元素的含量。由此建立了X射線熒光光譜 (XRF)分析法。
- 中文名
- X射線熒光光譜法
- 化學用途
- 金屬元素的測定
- 生物用途
- 醫學分析
- 地質用途
- 礦物分析
X射線熒光光譜法簡介
是介於原子發射光譜（AES）和原子吸收光譜（AAS）之間的光譜分析技術。
X射線熒光光譜法基本原理
它的基本原理是基態原子（一般蒸汽狀態）吸收合適的特定頻率的輻射而被激發至高能態，而後激發過程中以光輻射的形式發射出特徵波長的熒光。説明:測量待測元素的原子蒸氣在一定波長的輻射能激發下發射的熒光強度進行定量分析的方法。
原子熒光的波長在紫外、可見光區。氣態自由原子吸收特徵波長的輻射後，原子的外層電子從基態或低能態躍遷到高能態，約經10-8秒，又躍遷至基態或低能態，同時發射出熒光。若原子熒光的波長與吸收線波長相同，稱為共振熒光；若不同，則稱為非共振熒光。共振熒光強度大，分析中應用最多。在一定條件下，共振熒光強度與樣品中某元素濃度成正比。該法的優點是靈敏度高 ,譜線簡單；在低濃度時校準曲線的線性範圍寬達3~5個數量級，特別是用激光做激發光源時更佳。
X射線熒光光譜法應用
主要用於金屬元素的測定，在環境科學、高純物質、礦物、水質監控、生物製品和醫學分析等方面有廣泛的應用。
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