X射線儀器

X射線衍射分析的應用幾乎遍及物理、化學、生物、醫藥、金屬、地質、礦物、陶瓷、半導體、材料科學以及高分子科學等各個學科領域，成為各學科的科學工作者獲得物質組成和微觀結構信息的手段。

0320 熒光光譜儀

當某些物質到被某種能量較高的輻射照射時，該物質即發射出各種頻率極不同強度的光，停止照射這種光隨之消失，此種光線稱為熒光。

X射線照射物質時，也可以產生次級X射線，即熒光X射線。熒光X射線的波長只取決於物質中原子的種類。因此該波長的熒光X射線的波長就可以確定物質的元素組分，這就是熒光X射線定性分析的基礎。根據產生的熒光X射線的強度，就能定量地求出各元素含量，就是是熒光X射線定量分析的基礎。X射線熒光光譜儀，根據分光原理，可以分為波長色散型和能量色散型兩種基本類型。波長色散型X射線熒光光譜儀由X光管激發源、試樣室、晶體分光器、探測器和計數系統幾個部分組成。而能量色散型X射線熒光光譜儀則用分辨率較高的半導體探測器和多道脈衝分析器代替晶體分光器和一般探測器。X射線熒光分析廣泛應用於鋼鐵、合金、礦石、玻璃、陶瓷、塑料、石油等材料的元素分析。固體、粉末和液體樣均可用此法分析，成為現代儀器分析的主要手段之一。

當已知能量的X射線照射氣體或晶體固體時，由於光電效應，電子被打出外部；光電子能譜法，就是分析這種電子的動能，即光電子能譜而求出分子或晶體內電子結合能而鑑定物質元素的方法。原子內殼層的能級因化學結合狀態（價電子的變化）而變，這種變化可以造成X射線光電子電子能譜峯形狀和位置的變化，人們稱之為化學位移或化學校應。通過分析譜峯的化學位移可以得知該元素的價鍵信息。

X射線光電子能譜可以檢測元素週期表中除H及HE的所有元素，其信息深度為零點幾道及納米，檢測靈敏度為千分之幾原子層。這種儀器在能源、催化、大規模集成電路、超導簿膜研製、材料的腐蝕與防護、斷口分析、失效分析、表面電子發射、材料表面改性等領域得到廣泛應用。