BSDL

“邊界掃描”是一種可測性設計技術，即在電子系統的設計階段就考慮其測試問題。

BSDL（boundary scan description language） 語言硬件描述語言（VHDL）的一個子集，是對邊界掃描器件的邊界掃描特性的描述，主要用來溝通邊界掃描器件廠商、用户與測試工具之間的聯繫，其應用包括：廠商將BSDL描述作為邊界掃描器件的一部分提供給用户；BSDL描述為自動測試圖形生成（ATPG）工具測試特定的電路板提供相關信息；在BSDL的支持下生成由IEEE1149.1標準定義的測試邏輯 。現在，BSDL語言已經正式成為IEEE1149.1標準文件的附件。BSDL本身不是一種通用的硬件描述語言，但它可與軟件工具結合起來用於測試生成、結果分析和故障診斷。每一邊界掃描器件都附有特定的BSDL描述文件 .

BSDL

指令捕獲（INSTRUCTION_CAPTURE）屬性提供了測試TAP完整性的一條途徑。TAP完整性測試可以檢測時鐘TCK和模式選擇TMS的輸入端連接是否正確，所提供的有關信號是否正常；數據輸入TDI和數據輸出TDO端的連接是否正確，且輸入和輸出的功能是否正常；內部的指令寄存器工作是否正常；內部的邊界掃描寄存器工作是否正常。TAP完整性測試是進行邊界掃描其他任何測試之前建議首先進行的測試操作，以確保邊界掃描鏈能正常工作。

TAP完整性測試的過程。在TAP的 Shift-IR狀態，指令捕獲位圖形已加載至指令寄存器的移位寄存器部分，直接從TDO移出數據並與各芯片的Capture位圖形比較，若數據一致則TAP完整性測試通過。

芯片ID碼是識別芯片的內建器件標識碼，通過檢測芯片ID碼可以識別該芯片，判斷芯片裝配正確與否，並可進一步判斷芯片的型號、生產廠家及版本號與其標識是否相符，辨別芯片的真偽。當TAP進入Test-Logic-Reset狀態時，若標誌寄存器存在，則被強制接入TDI與TDO之間，寄存器LSB的值為“1”，否則，旁路寄存器被接入TDI與TDO之間，寄存器的值為“0”。所以，在檢測芯片標誌寄存器的值時，可以由復位狀態直接進入移位數據狀態，輸出TDO的值，並判斷其第一位是否為“1”，若是，則此芯片有標準寄存器存在，可繼續移出其他31位，並進行判斷與顯示。檢測流程。我們在對芯片EPM7128SL84進行ID標識碼檢測時，用邏輯分析儀採集到的TDO端的輸出波形，與BSDL描述中的ID碼一致，説明器件正確。

我們在開發邊界掃描測試軟件過程中，設計製作了基於邊界掃描機制的試驗電路板當作診斷實驗對象。其中兩塊EPM7128SL84芯片間的有16個互連網絡，分別是兩芯片的4～12管腳之間、33～41管腳之間的互連（除去7腳地線，38腳電源線）。在進行互連測試時，首先要構造一個16×16的測試矩陣，然後將此矩陣的16個列向量分別加載到芯片1的IO4～ IO12，IO33～IO41管腳（除去7腳和38腳），然後執行外部測試指令。由芯片2捕獲對應管腳上的信號，形成響應向量，全部16個列向量分別加載捕獲完成後，再對響應矩陣進行故障診斷 [3]。在此測試過程中，對芯片1的IO管腳加載的向量數據必須定位到每個管腳對應的三態輸出單元，即芯片1的281，278，275，269，263，260， 257，251，179，173，167，164，161，155，149，146單元；而芯片2所捕獲的對應管腳上的信號，在執行採樣指令之後，都被置入每個管腳對應的輸入單元，即芯片2的279，276，273，267， 261，258，255，249，177，171，165，162，159，153，147，144單元。這樣，從TDO輸出的對應單元的數據就組成了響應矩陣，對響應矩陣按照一定的算法進行分析，便可檢測出呆滯、短路、開路與橋接故障。