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電阻率剖面法
鎖定
- 中文名
- 電阻率剖面法
- 外文名
- resistivity profiling
- 簡 稱
- “電剖面法”
- 裝置類型
- 二級裝置、三級裝置等
電阻率剖面法用途
電阻率剖面法主要用來探測陡立產狀的地質體或構造(如陡立產狀的金屬礦體、岩層界限、斷裂帶等)。
電阻率剖面法裝置類型
電阻率剖面法包括許多分支裝置:二級裝置、三級裝置、聯合剖面裝置、對稱四級裝置、偶極裝置等。
電阻率剖面法二極裝置
這種裝置的特點是供電電極B和測量電極N均置於“無窮遠”處接地。無窮遠是相對概念,若B極在M點產生的電位或A極在N點所產生的電位相對於A極在M點所產生的電位可以忽略不計時,便可以認為B極或N極位於“無窮遠”。因此,二極裝置實際上時一種測量電位的裝置。
電阻率剖面法三極裝置
三極裝置,當只將供電電極B置於“無窮遠”,而將AMN沿測線排列並進行逐點觀測時,便稱為三極裝置。
電阻率剖面法聯合剖面裝置
聯合剖面裝置由兩個對稱的三極裝置聯合組成,故稱聯合剖面裝置。其中電源負極接到置於“無窮遠”處的C極,正極可分別接至A極或B極。
電阻率剖面法對稱四極裝置
這種裝置的特點是AM=NB,記錄點取在MN的中點。當取AM=MN=NB=a時,這種對稱等距排列稱為温納(Wenner)裝置。
電阻率剖面法偶極裝置
這種裝置的特點是供電電極AB和測量電極MN均採用偶極,並分開有一定距離。由於四個電極都在一條直線上,故又稱軸向偶極。