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超聲檢測設備
鎖定
超聲檢測設備是一種用於數學領域的物理性能測試儀器，於2012年04月01日啓用。
- 中文名
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超聲檢測設備
- 產 地
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德國
- 學科領域
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數學
- 啓用日期
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2012年04月01日
- 所屬類別
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物理性能測試儀器 > 探傷儀器 > 超聲探傷儀
超聲檢測設備技術指標
探頭規格：15MHZ、 30MHZ、 75MHZ、 100MHZ、 150MHZ、 230MHZ、 400MHZ。
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超聲檢測設備主要功能
超聲掃描顯微鏡主要用於檢測並分析
半導體封裝技術開發中的元器件內部分層等缺陷，對X-ray不能分辨的裂紋及封裝技術研發過程中粘接層、填充層、塗鍍層、結合層通過無損掃描進行分析。
[1]
- 參考資料
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1.
超聲檢測設備
．國家科技基礎條件平台中心[引用日期2020-11-11]
