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超聲掃描顯微鏡
鎖定
掃描顯微鏡是一種利用傳播媒介的無損檢測設備。在工作中採用反射或者透射等掃描方式來檢查元器件、材料、晶圓等樣品內部的分層、空洞、裂縫等缺陷。
- 中文名
- 超聲波掃描顯微鏡
- 外文名
- Scanning Acoustic Microscope
- 簡 稱
- SAM C-SAM
- 特 點
- 非破壞性、對樣品無損壞。分辨率高,可確定缺陷在樣品內部的精確位置
超聲掃描顯微鏡產品介紹
超聲掃描顯微鏡(3張)
超聲掃描顯微鏡原理
利用脈衝回波的性質,激勵壓電換能器發射出多束通過耦合液介質傳遞到被測樣品,在經過不同介質時會發生折射、反射等現象,通過阻抗不同的材料時會發生波形相位、能量上的變化等現象,經過一系列數據採集計算形成灰度值圖片,可用來分析樣品內部狀況。
作為無損檢測分析中的一種,它可以實現在不破壞物料電氣能和保持結構完整性的前提下對物料進行檢測。被廣泛的應用在物料檢測(IQC)、失效分析(FA)、破壞性物理分析(DPA)、可靠性分析、元器件二次篩選、質量控制(QC)、質量保證及可靠性(QA/REL)、研發(R&D)等領域。
特點
非破壞性、對樣品無損壞。分辨率高,可確定缺陷在樣品內部的精確位置。
工作方式
按接收信息模式可分為反射模式與透射模式。按掃描方式分可分為 C掃,B掃,X掃,Z掃,分焦距掃描,分波長掃描等多種方式。
二次打標假冒識別