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快速熱退火

鎖定
快速—熱退火( RTA) 是半導體加工工藝中的一種常規技術手段,一般用來激活半導體材料中的摻雜元素和將由離子注入造成的非晶結構恢復為完整晶格結構 [1] 
中文名
快速—熱退火
外文名
Rapid Thermal Annealing
英文縮寫
RTA
快速熱退火 (RTA)技術指的是將晶片從環境温度快速加熱至約1000–1500K,晶片達到該温度後會保持幾秒鐘,然後完成淬火。這種技術主要被應用於薄膜晶體管太陽電池等器件生產過程中的摻雜、點缺陷退火、雜質激活等高温(>700 ℃)過程。在低温器件,如玻璃襯底的多晶硅薄膜太陽電池應用中也具有很大的潛力 。
固相晶化非晶硅 (a- S i)薄膜法是一種最常見的間接製備多晶硅薄膜方法 。這種技術的優點是能實現薄膜大面積化,且工藝簡單 。但傳統的電熱爐退火進行固相晶化時,晶化時間長達幾個至幾十個小時,耗能及製造成本高 。而採用 RTA,在較高温度下幾分鐘內就可使非晶硅晶化,而且晶化後的多晶硅膜缺陷較少、內應力小 [2] 
參考資料
  • 1.    張磊,温度對快速熱退火製備多晶硅薄膜結構與電學性能的影響,人工晶體學報,2012年,1187-1187
  • 2.    陳永生,非晶硅薄膜的快速熱退火機理研究,人工晶體學報,2006,1137-1137