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內建自測試

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內建自測試（英語：built-in self-test, BIST）是可測試性設計的一種實現技術。
中文名
內建自測試
外文名
built-in self-test, BIST

目錄

  1. 1 簡介
  2. 2 可測試性設計
  3. 3 掃描鏈
  4. 4 相關條目

內建自測試簡介

內建自測試（英語：built-in self-test, BIST）是可測試性設計的一種實現技術。 [1] 

內建自測試可測試性設計

可測試性設計（英語：Design for Testability, DFT）是一種集成電路設計技術，它將一些特殊結構在設計階段植入電路，以便設計完成後進行測試。電路測試有時並不容易，這是因為電路的許多內部節點信號在外部難以控制和觀測。通過添加可測試性設計結構，例如掃描鏈等，內部信號可以暴露給電路外部。總之，在設計階段添加這些結構雖然增加了電路的複雜程度，看似增加了成本，但是往往能夠在測試階段節約更多的時間和金錢。 [1] 

內建自測試掃描鏈

掃描鏈（英語：Scan chain）是可測試性設計的一種實現技術。它通過植入移位寄存器，使得測試人員可以從外部控制和觀測電路內部觸發器的信號值。 [1] 

內建自測試相關條目

參考資料
  • 1.    Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu and Xiaoqing Wen. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability. Morgan Kaufmann. ISBN 978-0123705976.