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https://baike.baidu.hk/item/可測試性設計/5971918
可測試性設計
鎖定
可測試性設計
(
英語
:
Design for Testability, DFT
)是一種
集成電路設計
技術,它將一些特殊結構在設計階段植入電路,以便設計完成後進行測試。
中文名
可測試性設計
外文名
Testability design
實 質
集成電路設計
技術
優 點
節約時間與金錢
用途
電路測試有時並不容易,這是因為電路的許多內部節點信號在外部難以控制和觀測。通過添加可測試性設計結構,例如掃描鏈等,內部信號可以暴露給電路外部。總之,在設計階段添加這些結構雖然增加了電路的複雜程度,看似增加了成本,但是往往能夠在測試階段節約更多的時間和金錢。
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最近更新:
心雨心愿108
(2022-01-10)
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