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內建自測試
鎖定
內建自測試(英語:built-in self-test, BIST)是可測試性設計的一種實現技術。
- 中文名
- 內建自測試
- 外文名
- built-in self-test, BIST
內建自測試簡介
內建自測試可測試性設計
可測試性設計(英語:Design for Testability, DFT)是一種集成電路設計技術,它將一些特殊結構在設計階段植入電路,以便設計完成後進行測試。電路測試有時並不容易,這是因為電路的許多內部節點信號在外部難以控制和觀測。通過添加可測試性設計結構,例如掃描鏈等,內部信號可以暴露給電路外部。總之,在設計階段添加這些結構雖然增加了電路的複雜程度,看似增加了成本,但是往往能夠在測試階段節約更多的時間和金錢。
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內建自測試掃描鏈
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