-
test
（彙編指令）
鎖定
Test命令將兩個操作數進行邏輯與運算，並根據運算結果設置相關的標誌位。但是，Test命令的兩個操作數不會被改變。運算結果在設置過相關標記位後會被丟棄。
- 中文名
- test
- 類 型
- 邏輯運算指令
- 功 能
- 測試
- 語 法
- TEST r/m,r/m/data
test基本信息
Test屬於邏輯運算指令
test功能
測試（兩操作數作與運算,僅修改標誌位，不回送結果）。
test用法
Test對兩個參數(目標，源)執行AND邏輯操作，並根據結果設置標誌寄存器，結果本身不會保存。
TEST AX,BX 與 AND AX,BX 命令有相同效果，只是Test指令不改變AX和BX的內容，而AND指令會把結果保存到AX中。
test詳細介紹
語法：TEST r/m,r/m/data
影響標誌：C,O,P,Z,S(其中C與O兩個標誌會被設為0)
Intel的技術手冊上是這麼寫的:
TEMP ←SRC1 AND SRC2;
SF ←MSB(TEMP);
IF TEMP = 0
THEN ZF ←1;
ELSE ZF ←0;
FI:
PF ←BitwiseXNOR(TEMP[0:7]);
CF ←0;
OF ←0;
(* AF is *)
test舉例
翻譯過來就是:
將兩個操作數進行按位AND,設結果是TEMP
SF = 將結果的最高位賦給SF標誌位，例如結果最高位是1，SF就是1
看TEMP是不是0
如果TEMP是0，ZF位置1
如果TEMP不是0，ZF位置0
PF = 將TEMP的低8位，從第0位開始，逐位取同或。也就是第0位與第1位的同或結果，去和第2位同或，結果再去和第3位同或....直到和第7位同或。
CF位置0
OF位置0
AF位是未定的，鬼知道是什麼
下面我們來看看這麼做是否合理：
SF位是符號位。對於有符號的數據，最高位正好是符號位，合理。
ZF位記錄操作的結果是否是0， 合理。
計算機test(3張)
一個8位數有2^8 = 256種可能，而且這個操作這麼複雜，一個一個地驗算會死人的！！
幸好，高數老師教了我們歸納證明法！
證明：對於2，4，6，8這種偶數長度的數據，對其從低位到高位進行按位同或操作。如果數據的二進制表示中，有偶數個1，結果為1；反之結果為0
當長度=2的時候，有4種可能，00，01，10，11
對其進行同或運算，
00 = 1，有0個1，0也是偶數，合理。
01 = 0，有1個1，合理。
10 = 0，有1個1，合理。
11 = 1，有2個1，合理。
將長度擴展為4，根據低2位的結果，有8種可能：
00 + 奇 = 00 + 0 = 000 = 01 = 0， 0 + 奇 = 奇數，合理。
00 + 偶 = 00 + 1 = 001 = 00 = 1， 0 + 偶 = 偶數，合理。
01 + 奇 = 01 + 0 = 010 = 00 = 1， 注意，此處 1 + 奇 = 偶數，合理。
01 + 偶 = 01 + 1 = 011 = 01 = 0， 1 + 偶 = 奇數，合理。
10 + 奇 = 10 + 0 = 100 = 11 = 1， 不解釋。
10 + 偶 = 10 + 1 = 101 = 10 = 0， 不解釋。
11 + 奇 = 11 + 0 = 110 = 10 = 0， 不解釋。
11 + 偶 = 11 + 1 = 111 = 11 = 1, 不解釋。
推廣下去，證畢。
CF是進位標誌，對於test來講，沒啥子意義，置0，合理。
OF是溢出標誌，對於test命令來講，沒啥子意義，置0，合理。
AF未定義，自然合理。
test運用舉例
1.Test用來測試一個位，例如寄存器：
test eax，100b；b後綴意為二進制
jnz ******；如果eax右數第三個位為1，jnz將會跳轉
我是這樣想的，jnz跳轉的條件是ZF=0,ZF=0意味着ZF(零標誌)沒被置位，即邏輯與結果為1。
2.Test的一個非常普遍的用法是用來測試一方寄存器是否為空：
test ecx, ecx
jz somewhere
如果ecx為零，設置ZF零標誌為1，jz跳轉。
