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apt

(原子探針層析技術)

鎖定
原子探針層析技術(Atom Probe Tomography, APT)可以確認原子種類並直觀地重構出其空間位置,相對真實地顯示材料中不同元素原子的三維空間分佈,成為空間分辨率高的分析測試手段 [1] 
中文名
原子探針層析技術
外文名
Atom Probe Tomography
英文縮寫
APT
特    點
空間分辨率高,化學靈敏度高
釋義
APT是一種在原子尺度上提供三維(3-D)斷層掃描圖像和化學識別的技術。該技術結合了高空間分辨率和高化學靈敏度。 空間分辨率的深度為0.3nm,橫向為0.5nm。 大多數元素的化學敏感度為幾十ppm。
APT需要將樣品製備成針狀,其頂端半徑為50-100 nm。 低温冷卻針樣品(25-100K)用DC電壓(2-15 kV)偏置。在針尖處產生的靜電場(幾十V / nm)與脈衝激光脈衝電壓相結合,觸發一個或多個原子從頂點表面蒸發。使用位置敏感探測器(PSD)記錄每個探測到的離子的位置,同時基於飛行時間計算化學特性。
參考資料