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X射線衍射方法

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X射線衍射方法是一種利用X射線衍射圖樣探索物質微觀結構和結構缺陷的研究方法。主要由X射線源、試樣架和測角儀、X射線探測記錄儀等系統構成。X射線通過晶體之後所形成的衍射圖樣與晶體中原子的空間排列有關。當X射線與晶格原子相互作用時，會產生散射波之間的干涉效應，使得振幅在空間的某些方向上產生相長干涉，而在另一些方向上又產生相消干涉，從而形成有規則的衍射圖樣。分析這些圖樣，就可瞭解晶體內部原子排列的情況。 [1] 
中文名
X射線衍射方法
構    成
X射線源、試樣架和測角儀、X射線探測記錄儀等
自勞厄1912年從理論上預測並用實驗證實了X射線衍射現象以後，在理論和實驗手段上都有了很大發展。該法對固體和液體材料、晶體材料和非晶體材料的結構探測均有適用性，尤其高能量X射線源和高效率輻射探測器的開發與應用，使該法的應用範圍不斷擴大，廣泛地運用於固體物理、金屬物理、晶體化學、材料科學以及生物科學等領域中。 [1] 
參考資料
  • 1.    李慶臻．科學技術方法大辭典：科學出版社，1999