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X射線能譜分析

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X射線能譜分析(X-ray spectrometric analysis)是2015年全國科學技術名詞審定委員會公佈的計量學名詞,出自《計量學名詞》第一版。
中文名
X射線能譜分析
外文名
X-ray spectrometric analysis
所屬學科
計量學
公佈時間
2015年

目錄

X射線能譜分析定義

以高能X射線為試樣,將試樣原子內層軌道的電子激發出來,形成缺少內層電子的激發態離子。該離子極不穩定,其外層電子迅速向內層空穴躍遷,同時發射另一能量的X射線。此激發過程持續進行可得到不同能量線系的X射線,通過能量色散方式可獲得X射線強度隨能量變化的能量譜圖。根據能量譜圖上特徵X射線的強度和峯位置進行元素的定性和定量分析的方法。 [1] 

X射線能譜分析出處

《計量學名詞》第一版
參考資料