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X射線熒光能譜儀
鎖定
X射線熒光能譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2014年6月9日啓用。
- 中文名
- X射線熒光能譜儀
- 產 地
- 美國
- 學科領域
- 化學
- 啓用日期
- 2014年6月9日
- 所屬類別
- 分析儀器 > X射線儀器 > X射線能譜儀
X射線熒光能譜儀技術指標
1 分析元素範圍:Na11~Bk97 2 能量分辨率(Mn-Ka):優於140eV,在30,000cps下。嚴格依照ISO15632國際標準測量 3 可處理最大計數率:850,000CPS,最大輸出計數率>350,000CPS, 4 採用多級毛細管X射線聚焦,最小束斑達30um。 5 同時具備30um 、1mm、2mm, 3種尺寸的束斑照射。方便不同樣品的需求並轉換方便 6 除可進行點的定性定量分析(包括自動多點及線性、矩陣的多點分析)外,還可以進行跨視域的線、面分布分析。最大線掃描長度近100 mm,最大面分佈圖近100 mm x 80 mm。 7 樣品台行程:270 mm x 270 mm x 100 mm,承載5 kg. 8 樣品正立放置的樣品倉:直徑360 mm,深310 mm。可在常壓和低真空狀態下檢測。
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X射線熒光能譜儀主要功能
對材料進行無損檢測,主要檢測樣品中的元素成分種類及含量。同時具備微區分析的功能,可以在一定微觀尺度掃描元素的二維空間分佈狀態。主要服務領域較廣,只要對檢測元素成分有要求的行業都可以進行服務,包括:無機材料測試,生物材料成分測試,金屬行業實效分析等測試。
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- 參考資料
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- 1. X射線熒光能譜儀 .國家科技基礎條件平台中心[引用日期2021-01-13]