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X射線熒光法
鎖定
X射線熒光法是用，照射待測樣品，使受激元素產生二次特徵X射線（即熒光），使用X射線熒光儀測量並記錄樣品中待測元素的特徵X射線照射量率，從而確定樣品的成分和目標元素含量的方法。
- 中文名
- X射線熒光法
- 外文名
- X-ray fluorescence radioisotope
- 激發源
- 放射性同位素
- 學 科
- 核地質學
詞目：X射線熒光法
釋文：方法的特點是操作簡單，速度快，可以進行原位測量，在現場獲得目標元素的含量；劃分礦與非礦的界限，代替或部分代替刻槽取樣。放射性同位素X射線熒光測井和海底X射線熒光測量，也得到了很大的發展。
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