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X射線熒光分析法
鎖定
X射線熒光分析法(X-ray fluorescence analysis),是對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的熒光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據;譜線的強度是定量分析的依據。
- 中文名稱
- X射線熒光分析法
- 英文名稱
- X-ray fluorescence analysis
- 定 義
- 對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的熒光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據;譜線的強度是定量分析的依據。
- 應用學科
- 機械工程(一級學科),分析儀器(二級學科),能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理(三級學科)
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- 中文名
- X射線熒光分析法
- 外文名
- X-ray fluorescence analysis
- 應用學科
- 機械工程(一級學科),分析儀器(二級學科),能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理(三級學科)
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