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X射線熒光分析儀
鎖定
X射線熒光分析儀誕生以來,已發展到第三代。
- 中文名
- X射線熒光分析儀
- 檢出下限
- Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
- 樣品形狀
- 最大460×380mm(高150mm)
- 適用對象
- 塑料/金屬/紙/塗料/油墨/液體
X射線熒光分析儀產品特點
1、在測定微量成分時,由於X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景,致使目標峯的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特徵譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響,此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片,有效地降低了背景和散射X射線的干擾,調整出最具感度的輻射,進一步提高了S/N的比值,從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
2、X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景,軟件可自動過濾背景對分析結果的干擾,
從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準確的分析。
3、當某些元素的電子由高等級向低等級躍遷時釋放的能量相近,會使此時譜圖的波峯重疊在一起,由
此產生了重疊峯。SCIENSCOPE自行開發的軟件自動剝離重疊峯,確保了元素分析的正確性。
4、逃逸峯:由於採用的是Si針半導體探測器,因此當X射線熒光在通過探測器的時候,如果某種元素
的含量較高或者能量較高,其被Si吸收的概率也就越大。此時,光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值的地方回產生一個峯,此峯即為逃逸峯。
5、在電壓不穩的情況下,可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。
X射線熒光分析儀技術參數
分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 | ||
分析元素 | Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型) | ||
Na~U(任選:φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型) | |||
樣品室氣氛 | 大氣 | ||
X射線管 | 靶材 | Rh | |
管電壓 | 最大50KV | ||
管電流 | 最大1mA | ||
X射線照射徑 | 1/3/5mm | ||
防護 | - | ||
檢測器 | 硅SIPIN探測器 | ||
光學圖像觀察 | 倍率15倍 | ||
軟件 | 定性分析:自動定性(自動去背景/自動剝離重疊峯/自動補償逃逸峯/自動補償譜圖漂移) | ||
照射徑:1/3/5mm | |||
定量分析:基礎參數法/標準法/1點校正 | |||
計算機 | CPU | PentiumIV1.8GHz以上 | |
內存 | 256MB以上 | ||
硬盤 | 20GB以上 | ||
OS | WindowXP | ||
監視器 | 17寸LCD | ||
周圍温度 | 10~35C(性能温度)/5~40C(動作温度) | ||
周圍濕度 | 5~31C時温度範圍:最大相對濕度80%以下 /31~40C時温度範圍:相對濕度50%以下 | ||
電源 | AC110V/220V±10%、50/60HZ | ||
消耗電力 | 1.3KVA以下(含計算機、LCD、打印機) | ||
設備重量 | 約65kg(不含桌子、計算機) | ||
外形寸法 | 600(W)×545(D)×435(H)mm |