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X射線熒光光譜
鎖定
X射線熒光光譜是一種用於農學領域的分析儀器，於2010年11月8日啓用。
- 中文名
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X射線熒光光譜
- 產 地
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德國
- 學科領域
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農學
- 啓用日期
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2010年11月8日
- 所屬類別
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分析儀器 > X射線儀器 > X射線熒光光譜儀
X射線熒光光譜技術指標
最大功率4kW，穩定度±0.0005%，測角儀角度準確度≤±0.001°；角度重複性≤±0.0001°分光晶體：LiF(200)，PET，XS55，LiF(220)，Ge晶體，測試範圍：Na-U。
[1]
X射線熒光光譜主要功能
鋼鐵、冶金、耐材石油、化工機械、電子、磁性材料陶瓷、水泥、建材地質、環保。
[1]
- 參考資料
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1.
X射線熒光光譜
．國家科技基礎條件平台中心[引用日期2021-01-05]
