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LOCOS

鎖定
硅局部氧化隔離(Local Oxidation of Silicon)技術,是由Appels和Kooi於1970年提出的一種CMOS硅工藝中常用的器件隔離技術。
中文名
硅局部氧化
外文名
LOCal Oxidation of Silicon
別    名
LOCOS
相    關
STL,鳥喙效應
術語簡介
即“硅的局部氧化”技術(Local Oxidation of Silicon)
- CMOS工藝最常用的隔離技術就是LOCOS(硅的選擇氧化)工藝,它以氮化硅為掩膜實現了硅的選擇氧化,在這種工藝中,除了形成有源晶體管的區域以外,在其它所有重摻雜硅區上均生長一層厚的氧化層,稱為隔離或場氧化層。
-常規的LOCOS工藝由於有源區方向的場氧侵蝕(SiN邊緣形成類似鳥嘴的結構,稱為“鳥喙效應”bird beak)和場注入的橫向擴散,使LOCOS工藝受到很大的限制。