DC

新版本擴展了拓撲技術，以加速採用先進低功耗和測試技術的設計收斂，幫助設計人員提高生產效率和 IC 性能。

拓撲技術可幫助設計人員正確評估芯片在綜合過程中的功耗，在設計早期解決所有功耗問題。此外，還支持 Design Compiler 2007 中新的測試壓縮技術，在實現高質量測試的同時，減少測試時間和測試數據量超過 100 倍，並減少後續物理實現階段由於測試電路帶來的可能的佈線擁塞。

拓撲技術使綜合的實現結果和物理實現的結果具有緊密的一致性，這避免了在實現設計收斂過程中的在 RTL 綜合和物理佈局之間的耗時反覆。Design Compiler 與 Galaxy™ 設計平台物理設計解決方案共享技術和架構，可以實現 RTL 到 GDSII 過程的一致和高度可預測性。

Design Compiler 2007 採用了多項創新綜合技術，如自適應retiming和功耗驅動門控時鐘，性能較以前版本平均提高 8%，面積減少 4%，功耗降低 5%。此外，Synopsys Formality 等效檢測解決方案得到了增強，能夠獨立、徹底地驗證這些技術，因此設計者無需捨去驗證就可以實現更高的性能。