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魏道政

鎖定
魏道政(1929年-2022年11月26日),浙江省諸暨縣人,1953年畢業於復旦大學數學系 [3]  ,是中國最早從事計算數學和計算機應用研究的學者,是中國計算機輔助設計、輔助測試和容錯計算領域的主要開拓者之一 [4]  。曾任中國科學院計算技術研究所研究員、博士生導師、所科技指導委員會副主任,同時任中國計算機學會容錯計算專業委員會名譽主任、計算機輔助設計與圖形學專業委員會副主任、全國博士後管委會專家組成員,《計算機學報》、《軟件學報》、《計算機輔助設計與圖形學學報》等五種學術刊物編委或常務編委。 [1] 
曾獲第二屆國家自然科學獎、中國計算機學會“中國計算機事業60年傑出貢獻特別獎”和“終身成就獎”。 [4] 
2022年11月26日20時,魏道政在北京逝世,享年93歲。 [4] 
中文名
魏道政
國    籍
中國
出生地
諸暨市楓橋鎮魏家塢村
出生日期
1929年 [2] 
逝世日期
2022年11月26日
畢業院校
復旦大學
職    業
科技工作者
代表作品
主路徑敏化法獲1982年國家自然科學獎

魏道政人物生平

魏道政 魏道政
魏道政在1948年前曾就讀於忠義中學,於1953年從復旦大學數學系畢業,後由國家統一分配至中國科學院數學研究所工作,師從華羅庚教授學習數論。1957年轉入中國科學院計算技術研究所工作,從事計算數學、計算機應用等方面的研究工作。其間,歷任研究實習員、助理研究員、副研究員及研究員,國家“七五”、“八五”集成電路計算機輔助測試專家委員會委員;併兼任中國科學院成都計算機應用研究所所長,北京市人民政府專業顧問,中國科學院CAD實驗室學術委員會主任,全國博士後管委會學科專家組及中國博士後科學基金會專家組成員,中國科學院計算技術研究所學位評定委員會主席,國家自然科學基金委員會學科評審組成員。與此同時,還在中國科技大學、北京理工大學、北京計算機學院、山東大學、華中理工大學等校兼任教授。
2017年,因在容錯計算、計算機輔助測試、可測性設計方面做出了傑出貢獻,中國計算機學會授予魏道政“中國計算機事業60年傑出貢獻特別獎”。 [5] 
2022年11月26日20時,中國傑出的計算機專家、中國科學院計算技術研究所研究員、博士生導師,原中國科學院成都計算機應用研究所所長、中國科學院計算技術研究所CAD開放研究實驗室學術委員會主任,魏道政在北京逝世,享年93歲。 [4] 

魏道政重大貢獻

魏道政在容錯計算、計算機輔助測試、可測性設計等領域中作出了系統的、創造性的重大貢獻,是我國這一領域的開創者和學術帶頭人之一。他的研究成果有:013機插件測計系統,獲 1978年中國科學院重大科技成果獎;測試生產的主路徑敏化法,獲1982年國家自然科學四等獎;757機插件測試碼生成系 統,獲1986年中國科學院科技進步二等獎;測試方法研究及應用,獲1992年中國科學院自然科學二等獎。
魏道政在容錯計算、計算機輔助測試、可測性設計等領域造詣頗深,在國內外重大學術會議及學術刊物上發表論文80餘篇;併為國家培養碩士研究生27人,博士研究生40人。

魏道政所獲榮譽

1982年,獲得第二屆“國家自然科學獎”。 [3] 
2017年,獲得中國計算機學會“中國計算機事業60年傑出貢獻特別獎”。 [5] 
2020年,獲得中國計算機學會2019年度CCF終身成就獎。 [3] 

魏道政主要論著

魏道政. 1972. 產生組合電路測試碼的一種路徑敏化法. 電子計算技術, (2): 71-78.
魏道政. 1976. 大型數字電路測試碼的產生. 計算機動態, (13): 1-18.
魏道政. 1978. 大型數字電路測試碼的產生. 計算機學報, (2): 93-98.
魏道政. 1982. 產生功能塊級數字電路測試碼的一種算法——主路徑敏化法. 計算機學報, 5(2): 125-139.
Wei D Z. 1984. The principal path sensitization method and its realization for MSI
PCB’s.Beijing: Proceedings of the First International Conference on Computers and Applications: 748-753.
Wei D Z. 1986. An efficient algorithm for calculating Boolean difference. Journal of Computer Science and Technology, 1(1): 35-45.
魏道政. 1988. 組合電路故障模擬的平行臨界路徑跟蹤法. 計算機學報, 11(7): 408-415.
魏道政. 1989. 一種數字電路故障模擬方法——臨界路徑跟蹤法的改進. 計算機輔助設
計與圖形學學報, 1(1): 61-69, 74.
魏道政. 1990. 臨界路徑跟蹤——測試產生與故障模擬的一種算法. 計算機輔助設計與圖形學學報, 2(3): 40-50.
Wei D Z. 1990. Parallel critical path tracing — A fault simulation algorithm for combinational circuits. Journal of Computer Science and Technology, 5(2): 156-163.
魏道政. 1994. 功能塊級電路測試產生與故障模擬中的一些基本問題. 電子測量與儀器學報, 8(3): 1-9.
魏道政. 1999. 異步時序電路測試生成的一種代數方法. 軟件學報, 10: 157-162.
魏道政. 1999. 魏道政文集. 北京: 萬國學術出版社.
魏道政. 2006. 第二章邏輯模擬與故障模擬,第四章測試生成//現代集成電路測試技術編寫組. 現代集成電路測試技術. 北京: 化學工業出版社. [3] 
參考資料