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高分辨透射電鏡
鎖定
高分辨透射電鏡是一種用於物理學領域的分析儀器，於2003年12月1日啓用。
- 中文名
- 高分辨透射電鏡
- 產 地
- 日本
- 學科領域
- 物理學
- 啓用日期
- 2003年12月1日
- 所屬類別
- 分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡
高分辨透射電鏡技術指標
高分辨透射電鏡主要功能
對各種材料的物質表面及內部進行形貌觀察，電子衍射分析及高分辨電子顯微術研究，晶體結構及晶體性能進行研究，配合能譜儀可以對各種元素進行定性、定量及半定量的微區分析，廣泛應用於高分子材料、催化劑、潤滑材料、地質礦物、金屬沙漠、生物醫學等方面。
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- 參考資料
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- 1. 高分辨透射電鏡 ．國家科技基礎條件平台中心[引用日期2020-12-10]
