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非揮發性存儲器

鎖定
非揮發性存儲器,又稱非易失性存儲器,簡稱NVM,是指存儲器所存儲的信息在電源關掉之後依然能長時間存在,不易丟失。Flash 存儲器是最常見的非揮發性存儲器,近些年,隨着科學技術的發展,出現了一些新型非揮發性存儲器,如:鐵電存儲器(FRAM)、相變存儲器(PRAM)、磁存儲器(MRAM)和電阻式存儲器(RRAM)等。
中文名
非揮發性存儲器
外文名
non-volatile memory
別    名
非易失性存儲器
簡    稱
NVM
學    科
計算機
典型NVM
Flash 存儲器、FRAM、PRAM等

非揮發性存儲器簡介

存儲器大致可分為兩大類:揮發性存儲器和非揮發性存儲器。
揮發性存儲器在系統關閉時立即失去存儲在內的信息, 它需要持續的電源供應以維持數據。一般稱之為 RAM,有兩種主要的類型:動態隨機存取內存 (DRAM)和 靜態隨機存取內存 (SRAM)。
非揮發性存儲器在系統關閉或無電源供應時仍能保持數據信息。一個非揮發性存儲器( NVM)器件通常也是一個 MOS管,擁有一個源極,一個漏極,一個門極另外還有一個浮柵( FLOATING GATE)。它的構造和一般的 MOS管略有不同: 多了一個浮柵。 浮柵被絕緣體隔絕於其他部分。非易失存儲器又可分為浮柵型和電荷阱型。
非揮發性存儲器(以其高存儲密度、較低的功耗、隨機讀寫和優良的工藝兼容性等諸多優點,尤其是斷電後還可以保留原有數據的特點,逐漸在存儲系統中扮演越來越重要的角色。傳統的非揮發性存儲器主要有可擦寫可編程只讀存儲器(EPROM)、閃存(Flash)、電可擦可編程只讀存儲器(EEPROM)等。近些年,隨着科學技術的發展,一些新型的非揮發性存儲器也開始嶄露頭角,其中包括磁性隨機存儲器(MRAM)、鐵電存儲器(FeRAM)和相變存儲器(PCM)。 [1] 

非揮發性存儲器分類

非揮發性存儲器浮柵型存儲器

圖1 浮柵型存儲器 圖1 浮柵型存儲器
在浮柵型存儲器中, 電荷被儲存在浮柵中, 它們在無電源供應的情況下仍然可以保持。 所有的浮柵型存儲器都有着類似的原始單元架構。它們都有層疊的門極結構如圖1所示。 第一個門極被埋在門極氧化層和極間氧化層之間, 極間氧化層的作用是隔絕浮柵區, 它的組成可以是氧 -氮- 氧,或者二氧化硅。 包圍在器件周圍的二氧化硅層可以保護器件免受外力影響。 第二個門極被稱為控制門極, 它和外部的電極相連接。浮柵型器件通常用於 EPROM和 EEPROM。

非揮發性存儲器電荷阱型器件

圖2 MNOS 電荷阱型存儲器 圖2 MNOS 電荷阱型存儲器
電荷阱型器件是在 1967 年被髮明的,這也是第一個被髮明的電編程半導體器件。在這類型的存儲器中,電荷被儲存在分離的氮阱中,由此在無電源供應時保持信息。 電荷阱器件的典型應用是在 MNOS、SNOS和 SONOS中。圖2展示了一個典型的 MNOS電荷阱型存儲器的結構。 MNOS中的電荷通過量子機制穿過一層極薄的氧化層(一般為1.5-3nm)從溝道中被注入氮層中。

非揮發性存儲器Flash 存儲器

圖3  浮柵結構的非揮發性存儲器示意圖 圖3 浮柵結構的非揮發性存儲器示意圖
傳統非揮發性性存儲器以 Flash 為主,2012 年 NAND 型 Flash 已經發展到 32 nm/64 Gbit 技術。在集成電路上,Flash 存儲器是使用最廣泛的、工藝線寬最小的、單元集成密度最高的器件。Flash 存儲器的發展來源於 1967 年貝爾實驗室的 D. Kahng 和 S. M. Sze 所提出的浮柵型(Floating gate)的非揮發性半導體存儲器,它的主要組成部分為:襯底、隧穿氧化層(Tunnel oxide)、浮柵電極(Floating gate)、控制柵氧化層(Control oxide)、控制柵電極(Control gate)、源極(Source 和漏極(Drain)),其結構如圖3所示。Flash 存儲器的數據存儲是通過浮柵電荷存儲技術對 MOS 管閾值特性的改變來實現的。
Flash 存儲器由於其成本低、讀寫速度較快、存儲密度大等優點而成為最成熟的主流的非揮發性存儲器中。但隨着摩爾定律的發展,Flash 越來越達到它的極限。 [2] 

非揮發性存儲器FRAM

圖4  基於 PZT 材料的 FRAM 工作原理 圖4 基於 PZT 材料的 FRAM 工作原理
FRAM 全稱為“Ferroelectric random access memory”,它的存儲原理是通過施加外電場改變鐵電晶體材料(如 PZT)的極化方向和利用其自發極化和特性進行存儲。圖4 給出了 FRAM 的工作原理,以 PZT 鈣鈦礦型材料為例:PZT 材料晶胞中的
在居里温度下,會由於自發畸變而與其它原子發生了相對位移,電偶極子產生,發生自發極化。若再施加外電場,則
原子會沿着電場方向移動,從而導致極化方變化,與電場方向一致。但電場撤走後,中心原子在偏移後的位置保持,這使得鐵電材料有剩餘極化。電場方向不同,剩餘極化的方向就不同。可以利用兩個不同極化方向來可存儲“0”和“1”。讀數據時,是利用判定極化方向的電流不同來進行區分。高速、抗輻照和低功耗等優點的FRAM ,在各科學領域中有着廣泛應用。世界已有公司,如 Symetrix、Fujitsu、NSC、Siemens、 Sharp、Samsung 和 Ramtron 等,從 1980 年開始就有各自的 FRAM產品推出。但是,目前 FRAM 存在着一些阻擾其應用問題,如需要高温晶化處理、容量小、可靠性差,與傳統 CMOS 工藝不兼容等。 [2] 

非揮發性存儲器PRAM

圖5  相變存儲器的器件結構圖 圖5 相變存儲器的器件結構圖
PRAM 全稱為“Phase Random Access Memory”,通常也被稱為PCM、PCRAM或 OUM(Ovonics Unified memory)等。相變特性是指材料在晶態(Crystalline)和非晶態(Amorphous)可以相互轉換,且兩種狀態之問呈現出不同的電阻特性,以此來進行數據存儲。
圖5是相變存儲器的器件結構圖。相變存儲器的結構主要分為三層:從上到下分別為上電極(Top Electrode),具有相變特性材料的中間層和下電極(BottomElectrode),可以為金屬薄膜或半導體材料。
PRAM 器件具有非常簡單的 M-I-M 或 M-I-S 結構,只要在器件兩端施加不同的電脈衝,就可以使得相變薄膜材料在晶態與非晶態之間發生轉變,呈現出不同的電阻態,進行數據存儲。PRAM 在讀寫速度、集成密度和存儲窗口上都表現優越,而且具有多值存儲的潛力。在尺寸縮小方面,PRAM 中的相變材料在 10nm 以下仍然表現出很好的相變特性。但 PRAM 有一個致命的缺陷,在擦除(RESET)過程中需要大尺寸晶體管驅動較大的電流(>100uA),增加了芯片的功耗,制約了其在小尺寸工藝中的應用。 [2] 

非揮發性存儲器MRAM

圖6 MRAM 的工作原理示意圖 圖6 MRAM 的工作原理示意圖
MRAM 全稱為“Magnetoresistive Random Access Memory”,MRAM 的工作原理是利用電子自旋的特性,以電流產生磁場控制自由層(Free layer)的電子自旋方向,而結構中的固定層(Pinned layer)磁性薄膜是一層固定電子自旋方向的薄膜。在組件操作方面,若自由層與固定層自旋方向相同時,電子能夠輕易地穿透中間的穿透層(Tunnel barrier 或稱為 Barrier layer),使 MRAM 呈現低電阻態;當固定層自旋方向與自由層方向相反時,電子難以穿透中間的穿透層,使MRAM 呈現高電阻態,如圖6所示。在進行訊號讀取的過程中,當電阻值較高時,會得到較大的 Vout;當電阻值較低時,會得到較小的 Vout。因此可以利用 Vout的大小來判定訊號為 0 或 1,如圖7所示。
圖7存儲單位元讀取輸出電壓與存儲狀態示意圖 圖7存儲單位元讀取輸出電壓與存儲狀態示意圖
MRAM 的數據雖然是以磁性狀態進行存儲,但其讀取數據的方式是靠測量電阻來感知,對其磁性狀態不會造成干擾。MRAM 作為新型非揮發性存儲器,在存取速度、次數和功耗上都較優越,但要投入市場應用,還需解決以下難題:寫或擦除數據時的磁性干擾問題;複雜的磁性材料薄膜製備工藝,且其薄膜厚度不容易控制,影響器件的均勻性;與傳統 CMOS 工藝的兼容方面,有待進一步地優化。 [2] 

非揮發性存儲器RRAM

圖8 RRAM 器件絕緣體中形成樹枝狀的電阻絲 圖8 RRAM 器件絕緣體中形成樹枝狀的電阻絲
RRAM 的全稱為“Resistance Radnom Acess Memory”,RRAM 在器件製作上具有 Metal-Insulator-Metal(MIM)的簡單結構。其中金屬(M)是用來當作信號傳輸的良好電子導體。選擇上下電極的材料的時候,可以選用不一樣的或是一樣的材料。另外,電極不一定只能用金屬元素,只要是電子的良好導體,都能拿來當作電極使用(例如:P 型 Si)。而絕緣層(I)必須要有良好的電阻切換特性,能在給予偏壓時,控制電子的傳導行為。在現今的研究中,“I”絕緣層的種類主要有以下幾種:過渡金屬氧化物、有機材料與 SiOx等。
圖9 RRAM 的工作原理示意圖 圖9 RRAM 的工作原理示意圖
在 RRAM 的形成機制中,目前大多數人在用電阻絲理論(Filament theory):通過在絕緣體的外部偏置影響,電子在陰極生成,並通過絕緣層到達陽極。載流子經過絕緣層時會造成宛若樹枝狀的電阻絲通道,如圖8所示。利用第一次給予器件的偏壓,使得在絕緣層中電荷相互累積造成組件崩潰(Breakdown),產生大量電流流通,此過程被稱為電致形成過程(Forming process)。而在漢城大學 C. S.Huang 的研究團隊,關於氧化鈦系統的電阻式存儲研究中,認為在 Forming 過程,氧負離子受電壓影響向陽極擴散,留下鈦的四價離子或氧空位,從而導通途徑。
當電阻絲經過 Forming process 形成後,再控制外加的電壓與電流,可以使RRAM 組件在高阻態(High Resistance State, HRS)與低阻態(Low Resistance State,LRS)來回切換,如圖9所示;利用 RRAM 電阻值的高低來儲存 0 與 1 的訊號。 [2] 

非揮發性存儲器各存儲器比較

圖10各存儲器優缺點對比 圖10各存儲器優缺點對比
通過以上介紹可以看出,每種存儲器都各有優缺點,從定性上比較,如圖10所示。DRAM 和 SRAM 雖然存取速度快,但數據易失;Flash 應用最成熟,但未來發展不容樂觀;FRAM 有特殊的抗輻照能力,但其與 CMOS 工藝不兼容;PRAM可多值存儲,但功耗過大;MRAM 存儲能力不錯,但易受干擾;RRAM 結構簡單、操作速度快、功耗小、工藝與 CMOS 兼容性高、可多位存儲(Multi-level)等。
圖11 存儲器件參數對比 圖11 存儲器件參數對比
圖11為存儲器參數對比,可以看出,在讀寫速度和單元面積方面,RRAM 優於其它新型非揮發性存儲器。其讀寫速度目前最快可達到 5ns,單元面積目前為8
(F 為特徵線寬尺寸),以後有望達到 4
;而且 RRAM 的結構單元可以在三維方向上堆疊集成,這大大提高了存儲密度。此外,電阻式存儲器的製作和傳統的半導體工藝相兼容,這為其投入市場應用提供了強有力的保證。但業界認為,電阻式存儲器的阻變機理尚處於模糊階段,其實用產品還沒推出。 [2] 
參考資料
  • 1.    安棟. 非揮發性存儲器磨損均衡文件系統的設計與研究[D].華南理工大學,2016.
  • 2.    吳家傑. 新型非揮發性存儲器的製作及機理研究[D].西安電子科技大學,2014.