電離層吸收測量

由於碰撞使電波能量被吸收，因此通過對入射波和反射波振幅的比較，可以測量電離層的反射係數。通常使用的方法，是比較垂直探測的高頻脈衝在一定高度上反射的一次、二次、三次回波的振幅。由於不均勻體散射等原因，有時也可能出現後一次回波比前一次回波的振幅大，所以要取多次數據的平均值。這種方法稱為A1技術。它對微小的吸收變化很敏感，常作為正規的吸收測量方法。

宇宙噪聲通過電離層到達地面，接收到的宇宙噪聲強度隨電離層的吸收而發生變化。宇宙噪聲功率只表徵吸收的相對變化,為了得到絕對的量度,通常是利用夜間探測到的宇宙噪聲功率作為原始噪聲強度。這種方法稱為A2技術。測量裝置稱為電離層相對渾濁儀，觀測頻率是27～30兆赫。宇宙噪聲法對微小的吸收變化並不敏感，但對突發的吸收事件能給出很好的精度。常用於測量電離層突然騷擾、極光帶吸收、極蓋吸收以及核爆炸附加電離區等事件。

在距離100～400公里的南北方向電路上,使用2～3兆赫頻率，比較白天和夜間E層傳輸的場強差，可直接得到吸收值。這種方法稱為A3技術。它對微小吸收變化也很敏感，常用於研究中緯地區冬季異常吸收。

地面垂直探測電離圖描跡的最低頻率fm稱最小起測頻率。小於這個頻率的回波強度低於可記錄電平。fm與測高儀的放大係數、靈敏度、噪聲電平和電離層吸收有關。如果採取適當定標措施，這個參數可以作為吸收的指示量。這種方法可以用於研究冬季異常吸收，監測電離層突然騷擾、極光帶吸收和極蓋吸收等。