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電化學掃描探針顯微鏡
鎖定
電化學掃描探針顯微鏡是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器，於2009年12月10日啓用。
- 中文名
- 電化學掃描探針顯微鏡
- 產 地
- 德國
- 學科領域
- 化學、材料科學
- 啓用日期
- 2009年12月10日
- 所屬類別
- 分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡
電化學掃描探針顯微鏡技術指標
位系統分辨率：Z: 100 nm + Piezo 5 nm；X, Y: 100 nm (ElProScan)；X, Y: 15 nm (ElProScan HR)。掃描範圍：50mm （全方位）。Z軸壓電材料參數： Lateral Guiding：1 nm; 分辨率：1nm；重現性：室温下+/-10nm；行程：100μm; 響應時間：4ms。雙恆電位儀探針電位：±10 V；樣品電位：±10 V ；槽壓: ±20 V；電流靈敏度：每量程0。
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電化學掃描探針顯微鏡主要功能
探針掃描方式：（1）逼近：自動逼近樣品表面；（2）線性掃描：探針在線性掃描X,Y或Z軸的同時記錄探針電流、探針電位、樣品電流和樣品電位；（3）平面掃描：探針做平面掃描(X,Y)，同時記錄探針電流、探針電位。
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- 參考資料
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- 1. 電化學掃描探針顯微鏡 ．國家科技基礎條件平台中心[引用日期2020-12-28]
