複製鏈接
請複製以下鏈接發送給好友

遠紅外成像儀

鎖定
遠紅外成像儀是一種用於物理學領域的分析儀器,於2003年3月4日啓用。
中文名
遠紅外成像儀
產    地
美國
學科領域
物理學
啓用日期
2003年3月4日
所屬類別
分析儀器 > 熱分析儀器 > 熱成像儀

遠紅外成像儀技術指標

1.FOV視場(寬X高)/最小焦距:20°X15°內置/0.3m;2.IFOV空間分辨率1.1mrad;3.熱靈敏度(NETD):<0.03℃(30℃時);4.探測器類型:砷化鎵(GaAs),QWIP,320X240像素焦平面探測器;5.波長範圍:8-9μm;6.測温範圍:-40℃—+500℃,可通過濾片擴展到2000℃;7.精度:±2%(讀數範圍)或±2℃。 [1] 

遠紅外成像儀主要功能

廣泛應用在無損檢測評估、研究與發展和產品設計的紅外温度測量以及熱分析。適合要求精確測温的應用領域。 [1] 
參考資料