透視電子顯微鏡

透射電鏡主機主要技術指標： 電子槍： LaB6（六硼化鑭） 點分辨率：0.23 nm 線分辨率：0.14 nm 加速電壓： 200kV 束斑尺寸：1.0~25 nm 放大倍數（高倍）：2000~1,500,000 放大倍數（低倍）：50~6,000 傾斜角：±35° 能譜儀技術指標： 能譜儀能量分辨率（MnK）：優於136eV。 ^[1] 

高分辨顯微結構照片、微區電子衍射、EDS能譜。JEM-2100透射電鏡作為一架通用的高分辨率分析電子顯微鏡應用廣泛，從高分辨率圖像觀察、極微小領域X射線分析、通過會聚電子衍射進行的晶體結構的精密分析，到物質的電子結構以及結合狀態的分析，在材料開發和物性研究中都發揮着巨大作用。 JEM-2100透射電鏡能對材料的顯微形貌、結構及化學成份進行實時分析。通過EDX成份分析對納米微區或微粒進行定性或定量分析，在物理學、化學、材料科學、礦物學、地質、選礦、冶金工程等領域皆可應用；還可以觀察細胞的精細結構，已應用於研究生命科學和生物醫藥學的各個領域，也是病理學上的診斷工具。 ^[1]