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透射電子顯微術

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透射電子顯微術(TEM)是指在透射電子顯微鏡中利用高能電子束通過試樣時產生的各種信息研究試樣物質微觀結構的分析技術。
中文名稱
透射電子顯微術
英文名稱
transmission electron microscopy，TEM
定　　義
利用穿透薄膜試樣的電子束進行成像或微區分析的一種電子顯微術。能獲得高度局域化的信息，是分析晶體結構、晶體不完整性、微區成分的綜合技術。
應用學科
材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表徵與測試（四級學科）
以上內容由全國科學技術名詞審定委員會審定公佈
中文名
透外電子顯微術
外文名
Transluminal electron microscopy
學    科
材料工程
領    域
工程技術

目錄

  1. 1 簡介
  2. 2 原理
  3. 3 不同應用方式
  4. 4 內容

透射電子顯微術簡介

透射電子顯微術(TEM)是指在透射電子顯微鏡中利用高能電子束通過試樣時產生的各種信息研究試樣物質微觀結構的分析技術 [1]  。

透射電子顯微術原理

經加速的高能電子束通過試樣時和物質原子發生交互作用，形成透射電子、衍射電子等，它們和物質的結構與成分密切相關 [2]  。

透射電子顯微術不同應用方式

單獨利用透射電子束或衍射電子束成像，可以獲得反映物質內部微觀組織和結構的明場像或暗場像。同時利用透射電子束和一束或多束衍射電子束成像，可以得到反映物質內部原子尺度微觀結構的高分辨結構圖像。明場像、暗場像、高分辨結構圖像，都是反映物質內部不同層次的結構細節的圖像 [2]  。

透射電子顯微術內容

近代透射電子顯微術包括分析衍射譜以獲得衍射物質晶體結構和位向的信息，以及利用高能入射束照射試樣微小區域產生的X射線進行成分分析等內容，它還包括對不同成像模式下所獲得的各種圖像進行分析以得到其它物質結構信息(例如晶體不完整性)的有關技術 [3]  。
參考資料
  • 1.    鄭伯讓, 金振民. 透射電子顯微術在顯微構造研究中的應用[J]. 地質科技情報, 1986(1):29-36.
  • 2.    柳得櫓, 王元立, 霍向東,等. 低碳鋼中納米尺度沉澱相的透射電子顯微術研究[J]. 電子顯微學報, 2002, 21(3):283-286.
  • 3.    黃孝瑛. 透射電子顯微學[M]. 上海科學技術出版社, 1987.