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計算機斷層成像儀
鎖定
計算機斷層成像儀是一種用於測繪科學技術、材料科學領域的特種檢測儀器，於2014年10月13日啓用。
- 中文名
- 計算機斷層成像儀
- 產 地
- 德國
- 學科領域
- 測繪科學技術、材料科學
- 啓用日期
- 2014年10月13日
- 所屬類別
- 特種檢測儀器 > 射線檢測儀器 > 工業X光機
計算機斷層成像儀技術指標
工作尺寸：外直徑310mm，選擇擴展掃描最大直徑可達550mm；有效掃描高度最大600mm。掃描時間：典型高精度掃描為5~15分鐘；快速掃描小於1分鐘。射線源技術參數：高壓範圍10~225kV；管電流0.01~3.0mA;最大管功率320W；最小焦點樣品距離6.75mm；焦點尺寸6um；自動啓動，自動聚焦，恆功率；封閉循環水冷。探測器參數：像素10242Pixel；總面積2048mm2；節距200um；數模轉換16bit；刷新率15fps@200u,30 fps@400u;能量範圍0~225kV。
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計算機斷層成像儀主要功能
- 參考資料
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- 1. 計算機斷層成像儀 ．國家科技基礎條件平台中心[引用日期2020-12-28]
