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莫桑石

莫桑石也稱為（莫桑鑽），天然莫桑石可追溯到十九世紀後期，莫桑石一詞來源於Henri Moissan博士，1904年他在亞利桑那隕石坑中發現了這種礦物。市場上大部分莫桑石均為人工合成，天然莫桑石非常稀少，僅存在於隕石坑內，其顏色多為暗綠色、黑色。

莫桑石的外觀與水晶玻璃透明體相似，但肉眼可以分辨。

中文名: 莫桑石、莫桑鑽
外文名: Moissanite
分子量: 40.10 u

解理: [0001] 不明顯
斷口: 貝殼狀
產地: 歐美比利時中國

莫桑石來源

五萬年前，一顆隕石劃破長空掉落在亞利桑那州，在地表形成巨型隕石坑，深570英尺，直徑達一英里，沙漠裏也散落了一些隕石殘骸。

莫桑石主要區別

有經驗的師傅，僅憑肉眼便可以輕鬆區分莫桑石與鑽石，因為莫桑的七彩火彩比鑽石更強。在專業儀器下測試，莫桑石的火彩是鑽石的2.5倍。在色散值上，鑽石是0.044，莫桑是0.104；在折射度上，鑽石是2.417，莫桑是2.65，莫桑的色散值及折射度都超過鑽石。在摩氏硬度上，鑽石是10，莫桑石是9.25。

寶石參數對比表

寶石比較指導	美麗			耐用性
寶石比較指導	亮度折射率(RI)	火彩色散度	光澤	莫氏硬度	韌度
Moissanite	2.65-2.69	0.104	20.4%	9 ¼	極優良
鑽石	2.42	0.044	17.2%	10	極優良*
紅寶石	1.77	0.018	7.4%	9	極優良**
藍寶石	1.77	0.018	7.4%	9	極優良**
綠寶石	1.58	0.014	5.1%	7 ½	尚可到優良

莫桑石與鑽石鑑別：

1、比重：莫桑石比鑽石輕，即它們的比重不同，鑽石的比重為3.52，而莫桑石的比重僅3.22。對未鑲嵌的材料，用甲基碘比重液（比重3.32）很容易將兩者區分。

2、硬度：莫桑石的硬度小於鑽石，因此用鑽石硬度計在莫桑石表面作刻劃試驗會留下劃痕，而刻劃計不會在鑽石表面留下劃痕。

3、導電性：據GIA的報告，80%的莫桑石均為電導體（天然鑽石中僅藍色、藍灰色IIb型鑽石具導電性）。常見的白/淺黃色系鑽石是不導電的，因此可用電導儀或者莫桑儀鑑別鑽石與莫桑石。

4、折光率：莫桑石的折光率與鑽石不同，莫桑石的反光特徵也不同於鑽石，有經驗的鑽石鑑定人員可將二者區分；此外，莫桑石具雙折射，因此仔細觀察不難看出莫桑石稜線及底尖的重影，此時變換觀察角度，重影仍會出現。

5、二軸光特性：由於莫桑石的二軸光性特徵，其重影特徵的觀察取決於觀察的角度，當從枱面主刻面觀察重影均較明顯，儘管枱面垂直莫桑石晶軸c軸時會減小重影效果，聚焦於底尖仍能看到枱面及冠部刻面的反射重影，這種特點與單折射的鑽石的冠部反射完全不同。

6、拋光紋：莫桑石的腰部拋光紋相互平行，這與鑽石完全不同。而且由於不同方向的差異，鑽石拋磨過程中要不斷調整拋光方向，而莫桑石可沿同一方向拋光。這一點在相鄰刻面間尤為明顯。

7、切割：大多數已切割的莫桑石其稜線均較為圓鈍，這與具尖鋭稜線的鑽石完全不同。

8、內含物：鑽石的內含物與莫桑石內含物不同。所有鑑定過的莫桑石中都有一些內含物，它們呈針狀平行排列。一些莫桑石內可見細的平行排列的反射線。

9、顏色：莫桑石因2015年推出了與鑽石同步的DF級別顏色，因此兩者難以從顏色上區分。

莫桑石定義

工業合成碳化硅

莫桑石（Synthetic Moissanite）又名合成莫桑石、合成碳硅石（化學成分SiC），色散0.104比鑽石(0.044)大，折射率2.65-2.69(鑽石2.42)，具有與鑽石相同的金剛光澤，“火彩”更強，比以往任何仿製品更接近鑽石。這是由北卡羅來那州的C3公司製造生產的，已擁有世界各國生產莫桑石的專利，正在向全世界推廣應用。

按鑽石的4C分級標準，合成碳化硅的顏色（Color）、淨度(Clarity)、切工(Cut)、及重量(Carat) 特性如下：

顏色：無色、藍、綠、黃綠、黃色　晶系六方晶系

硬度：9.25

光澤：玻璃，次金屬光澤

條痕：灰綠色

透明性：透明至不透明

密度：3.218 - 3.22g/cm³

莫桑石顏色

莫桑石是可以達到無色的，多為透明無色、接近無色、淡黃色。按GB/T 16554《鑽石分級》^[1] 色級在96、95（H、I）以下，（見下表）。具有二色性（莫桑石不具二色性）。 GB/T 16554無色-黃色（褐色）莫桑石顏色分級標準莫桑石顏色等級 D 100 極白 E 99 F 98 優白 G 97 H 96 白 I 95 微黃(褐、灰)白 J 94 K 93 淺黃(褐、灰)白 L 92 M 91 淺黃(褐、灰) N＜90 黃(褐、灰)

顏色

莫桑石淨度

莫桑石屬六方晶系，可結晶到2－3英寸的柱狀晶體，部份材料可做到IF級 (Internally Flawless) 內無瑕級（鑽石內無含物，只有極輕微的瑕疵，通常可由磨光去除）；大部分合成碳化硅帶有白點組成的細白線狀內含物，檢測多為微瑕級VS或瑕疵級SI。其內含物方向約與桌面大致垂直，互相間不完全平行（有幾度的差距）；極少數有暗色金屬球狀物。