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臨界尺寸
鎖定
臨界尺寸：英文Critical Dimension，縮略詞“CD”。
英語縮略詞“CD”經常作為“Critical Dimension”的縮寫來使用，中文表示：“臨界尺寸”。
- 中文名稱
- 臨界尺寸
- 英文名稱
- critical dimension
- 定 義
- 在一定的材料組成和幾何佈置狀下，堆芯恰好達到臨界時的尺寸。相應的體積稱為“臨界體積(critical volume)”。
- 應用學科
- 電力（一級學科），核電（二級學科）
以上內容由全國科學技術名詞審定委員會審定公佈
- 中文名
- 臨界尺寸
- 外文名
- critical dimension
- 中文拼音
- lín jiè chǐ cùn
- 縮寫詞流行度
- 29
臨界尺寸基本信息
- 英文縮寫詞：CD
- 英文單詞：Critical Dimension
- 縮寫詞中文簡要解釋：臨界尺寸
- 中文拼音：lín jiè chǐ cùn
- 縮寫詞流行度：29
- 縮寫詞分類：Academic & Science
- 縮寫詞領域：Electronics
以上為Critical Dimension英文縮略詞CD的中文解釋，以及該英文縮寫在英語的流行度、分類和應用領域方面的信息。
臨界尺寸擴展資料
- Systematic Control Exploitation for Critical Dimension(CD) and Overlay in Photolithography Technology光刻工藝中對線寬和套刻系統性控制的開發
- The relation between critical dimension of Minkowski space and the rank of internal nonabelian gauge group is given.給出Minkowski空間的臨界維數與內部非阿貝爾規範羣的秩的關係。
- As a critical dimension, it opens the space of the possibility wide for Man's historical development and leads the contemporary Chinese society to make the correct choices in the dialectical unity of the reality and the ideal of Man's all-round development.作為一個批判性的維度，它為人類的歷史發展敞開了可能性的空間，並引導當代中國人和中國社會在人的全面發展的現實和理想的辯證統一中做出正確的選擇。
- With the decreasing of critical dimension, the influence of chip defects on yield is more and more serious.隨着集成電路工藝尺寸的減小，製造缺陷對芯片成品率的影響越來越大。
- With the development of " scaling " in Integrate Circuit, the critical dimension reduces continuously.隨着集成電路按比例縮小趨勢的不斷髮展，刻線臨界尺寸(CD)不斷減小。
上述內容是“Critical Dimension”作為“CD”的縮寫，解釋為“臨界尺寸”時的信息，以及英語縮略詞CD的所代表英文單詞，其對應的中文拼音、詳細解釋以及在英語中的流行度和相關分類、應用領域及應用示例等。
