- 中文名
- 能谱仪
- 外文名
- EDS,Energy Dispersive Spectroscopy
- 针对对象
- 材料微区成分元素种类与含量
- 探 头
- 新型硅漂移探测器(SDD)
原理
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性能指标
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检出角:理论上该角度越大越好
探头:新型硅漂移探测器(SDD)逐步取代锂硅Si(Li)探测器
探测元素范围:Be4~U92
测试原理
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当X射线光子进入检测器后,在Si(Li)晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的(在低温下平均为3.8ev),而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε,因此,入射X射线光子的能量越高,N就越大。利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对,经过前置放大器转换成电流脉冲,电流脉冲的高度取决于N的大小。电流脉冲经过主放大器转换成电压脉冲进入多道脉冲高度分析器,脉冲高度分析器按高度把脉冲分类进行计数,这样就可以描出一张X射线按能量大小分布的图谱。
使用范围
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1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析;
能谱仪的几个类型
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