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能譜儀
鎖定
- 中文名
- 能譜儀
- 外文名
- EDS,Energy Dispersive Spectroscopy
- 針對對象
- 材料微區成分元素種類與含量
- 探 頭
- 新型硅漂移探測器(SDD)
能譜儀原理
能譜儀性能指標
固體角:決定了信號量的大小,該角度越大越好
檢出角:理論上該角度越大越好
探頭:新型硅漂移探測器(SDD)逐步取代鋰硅Si(Li)探測器
探測元素範圍:Be4~U92
能譜儀測試原理
當X射線光子進入檢測器後,在Si(Li)晶體內激發出一定數目的電子空穴對。產生一個空穴對的最低平均能量ε是一定的(在低温下平均為3.8ev),而由一個X射線光子造成的空穴對的數目為N=△E/ε,因此,入射X射線光子的能量越高,N就越大。利用加在晶體兩端的偏壓收集電子空穴對,經過前置放大器轉換成電流脈衝,電流脈衝的高度取決於N的大小。電流脈衝經過主放大器轉換成電壓脈衝進入多道脈衝高度分析器,脈衝高度分析器按高度把脈衝分類進行計數,這樣就可以描出一張X射線按能量大小分佈的圖譜。
能譜儀使用範圍
1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析;
4、金銀飾品、寶石首飾的鑑別,考古和文物鑑定,以及刑偵鑑定等領域;
5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析,在材料表面做元素的面、線、點分佈分析。
能譜儀能譜儀的幾個類型
能譜儀按照探頭的位置、數量配置可以分為斜插式、平插式、多探頭等。