納米濕敏防偽

專 利 號：ZL 2009 20135869.1

專利申請日：2009年3月26日

授權公告日：2010年1月13日

發明人：杜振林 李魁山 張龍生

專利權人：深圳市華德防偽技術開發有限公司

製作納米濕敏防偽材料的原材料配方及生產設備十分的複雜、獨特，知識 產權受到保護，所以其仿製的難度和仿製的成本非常高昂。通過特殊的工藝將微孔膜和其他基材進行復合，再經過印刷、燙印、成型等工藝製作成複合客户要求的濕敏防偽標識（納米濕敏防偽標識）。 ^[1] 

【滴水顯真偽，水乾後復原，0.1秒內即刻辨真偽】

一線防偽：塗濕標識表面，立刻顯示出更多隱藏的信息即為真，絕大多數的商品具備此一種防偽性能就已經足夠了。

二線防偽： 塗濕標識表面，在紫外線照射下觀察，能夠清晰地觀察到發光的圖文信息即為真，適用於機密文件、證件。同時可以結合其他的紙張防偽、油墨防偽等等。

三線防偽：塗濕標識表面，用放大鏡觀察，可見其獨特的紋路特徵，此鑑別適用於專家鑑定。

^[2]