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環境掃描電鏡
鎖定
環境掃描電鏡是一種用於物理學領域的分析儀器，於2014年3月19日啓用。
- 中文名
- 環境掃描電鏡
- 產 地
- 中國
- 學科領域
- 物理學
- 啓用日期
- 2014年3月19日
- 所屬類別
- 分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡
環境掃描電鏡技術指標
分辨率：高真空模式：3.0nm（SE，30kV），4.0nm（BSE，30kV），8.0nm（SE，3kV） 低真空模式：3.0nm（SE，30kV），4.0nm（BSE，30kV） 環境真空模式：3.0nm（SE，30kV）。
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環境掃描電鏡主要功能
- 參考資料
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- 1. 環境掃描電鏡 ．國家科技基礎條件平台中心[引用日期2021-01-14]
