現代集成電路測試技術

全書分上下篇，上篇主要介紹了數字VLSI結構化測試方法、數模混合信號電路測試方法、設計驗證技術和集成電路測試標準等內容，下篇重點介紹了數字/模擬/數模混合信號等三種類型集成電路測試系統和集成電路測試驗證系統等內容，並特別關注了以SOC測試、基於DFT測試、RAM測試為主要特點的新類別測試系統和基於標準總線集成電路測試系統的發展，《現代集成電路測試技術》可作為從事微電子測試和設計工作的研究人員、技術人員，以及準備進入該領域的管理人員的學習和培訓教材，也可作為高等院校相關專業師生的教材和參考書。

全書按集成電路測試原理和集成電路測試設備劃分為上、下篇。根據現代集成電路測試技術發展和專業測試需求，上篇主要介紹數字VLSI結構化測試方法、數模混合信號電路測試方法、設計驗證技術和集成電路測試標準；下篇重點介紹數字/模擬/數模混合信號等三種類型集成電路測試系統和集成電路測試驗證系統，同時特別關注了以SOC測試、基於DFT測試、RAM測試為主要特點的新類別測試系統和基於標準總線集成電路測試系統的發展，並安排了測試系統計量和自動分選機/探針測試台兩個專題。

上篇集成電路測試原理

第1章概述

11測試的意義

12測試的分類

13測試成本與產品質量

參考文獻

第2章邏輯模擬與故障模擬

21電路模型及簡單的結構分析

22信號狀態模型

23定時模型

24故障模型及故障精簡

25故障效應的傳播

26邏輯模擬算法

27故障模擬算法

28時序電路的邏輯模擬和故障模擬

參考文獻

第3章可測性度量

31可測性度量的基本概念

32可測性的度量

參考文獻

第4章測試生成

41測試生成方法分類

42測試生成算法中的一些基本概念和技術

43單路徑敏化法

44D算法

459值算法

46PODEM算法

47FAN算法

48布爾差分法

49布爾滿足法

410面向電路的測試生成方法

411組合ATPG算法研究進展

412時序電路測試生成

4 13高層設計的測試生成

414測試生成系統

參考文獻

第5章可測性設計方法和技術

51可測性設計的基本概念

52專門的可測性設計方法

53基於掃描的可測性設計技術

54全速測試和全速掃描測試技術

55特徵分析測試方法簡介及內建自測試

56邊界掃描設計技術

57可測性設計規則綜述

參考文獻

第6章設計驗證技術

61設計驗證技術基本概念

62設計的模擬驗證

63設計的形式驗證和斷言驗證

64設計驗證輔助功能測試向量的製成

65現代數字集成電路芯片設計驗證的語言

參考文獻

第7章測試數據壓縮技術

71測試數據壓縮的緣由、特點和方法概述

72Huffman編碼

73遊程編碼的方法

74Golomb碼的數學基礎和數據壓縮

75快速編碼的優勢和特點

76二維壓縮編碼方法的基本實踐

77數據壓縮的硬件實施方法和措施

參考文獻

第8章測試開發系統

81測試語言

82測試程序

83測試開發環境

84測試轉換系統

85測試設備脱機開發環境

參考文獻

第9章混合信號集成電路測試

91概況

92採樣理論

93基於DSP的測試

94基於模型的測試

95DAC測試

96ADC測試

97混合信號DFT和BIST

參考文獻

第10章IDDQ測試

101IDDQ基本原理

102IDDQ測試生成

103IDDQ可測性設計

104IDDQ監控器設計

105ΔIDDQ測試

106深亞微米IDDQ測試

107未來方向

參考文獻

第11章SOC測試

111概況

112SOC測試困難

113測試訪問機制

114測試外殼

115內核測試

116SOC系統測試

117測試標準

118內核測試語言

119未來的挑戰

參考文獻

第12章集成電路測試標準

121集成電路相關標準機構

122國際集成電路測試標準介紹

下篇集成電路測試設備

第13章集成電路測試系統概述

131集成電路測試系統發展概述

132集成電路測試系統分類

133集成電路測試系統專用集成電路

134分佈式集成電路測試系統

參考文獻

第14章集成電路測試驗證系統

141集成電路測試驗證要求和測試驗證系統發展

142第1代測試驗證手段和系統

143第2代測試驗證系統的構成

144第3代測試驗證系統的特點

145現代測試驗證系統的要求和特點

參考文獻

第15章數字集成電路測試系統

151數字集成電路測試系統原理

152數字SSI/MSI測試系統

153數字LSI/VLSI測試系統

參考文獻

第16章RAM測試技術和測試系統

161RAM的基本組成及結構

162RAM測試

163RAM測試系統

參考文獻

第17章模擬集成電路測試系統

171模擬電路的測試需求

172模擬電路測試系統的系統結構

173模擬測試系統儀器構成原理

174現代模擬集成電路測試系統

參考文獻

第18章數模混合信號集成電路測試系統

181混合信號電路對測試的需求

182混合信號電路測試系統的體系結構

183混合信號電路測試系統的同步

184混合信號測試的特殊儀器

185混合信號電路測試系統

第19章基於標準總線的集成電路測試系統

191基於標準總線的集成電路測試系統發展

192虛擬儀器

193自動測試系統軟件體系結構

194基於標準總線的通用集成電路測試系統舉例

參考文獻

第20章基於DFT測試儀

201傳統ATE

202DFT測試儀

203測試方法

204DFT測試應用

205DFT測試儀與傳統ATE區別

206一種邊界掃描DFT測試系統——JTAG

參考文獻

第21章SOC測試系統

211SOC測試特性

212SOC測試系統特性

213SOC測試系統

參考文獻

第22章集成電路測試系統的計量

221量值溯源基礎

222集成電路測試系統校準與參數溯源的基礎原理

223集成電路測試系統校準與參數溯源方法介紹

224集成電路測試系統國家校準規程

參考文獻

第23章集成電路測試輔助設備

231自動分選機

232探針測試台

參考文獻 ^[1]