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測試裝置
鎖定
《測試裝置》是李諾工業股份有限公司於2017年8月28日申請的專利，該專利公佈號為CN109690328B，專利公佈日為2021年6月8日，發明人是申晶澈。
- 中文名
- 測試裝置 [1]
- 授權公告號
- CN109690328B
- 授權公告日
- 2021年6月8日
- 申請號
- 201780052906X
- 申請日
- 2017.08.28
- 專利權人
- 李諾工業股份有限公司
- 地 址
- 韓國釜山市江西區美音產團路105弄10號（郵遞區號：46748）
- 發明人
- 申晶澈
- Int. Cl.
- G01R1/04(2006.01)I; G01R3/00(2006.01)I; G01R31/28(2006.01)I
- 專利代理機構
- 北京同立鈞成知識產權代理有限公司11205
- 代理人
- 馬爽; 臧建明
- 優先權
- 10-2016-0112668 2016.09.01 KR
- PCT進入國家階段日
- 2019.02.27
- PCT申請數據
- PCT/KR2017/009375 2017.08.28
- PCT公佈數據
- WO2018/044014 EN 2018.03.08
專利摘要
公開一種測試裝置。所述測試裝置包括：測試座，被配置成支撐多個探針；測試電路基板，包括用於接觸所述探針的接觸點；滑動件，使所述測試座耦合至所述測試電路基板及自所述測試電路基板分離；以及滑動件操作器，包括主體及滑動件按壓部，所述主體配置在所述測試座上，所述滑動件按壓部以能夠上下移動的方式支撐於所述主體上且自所述主體朝所述滑動件向下移動以使所述滑動件能夠沿所述測試座的表面方向滑動。
- 參考資料
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- 1. 測試裝置 ．國家知識產權局[引用日期2021-07-05]
