測厚儀

測厚儀可以用來在線測 量軋製後的板帶材厚度，並以電訊號的形式輸出。該電訊號輸給顯示器和自動厚度控制系統，以實現對板帶厚度的自動厚度控制（AGC）。 目前常見的測厚儀有γ射線、β射 線、x射線及同位素射線等四種，其安放位置均在板帶軋機的出口或入 口側。設計、安裝測厚儀時要在可能的條件下儘量靠近工作輥，目的是降低板厚的滯後調整時間。

用於測定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構件在製造和檢修時必須測量其厚度，以便了解材料的厚薄規格，各點均勻度和材料腐蝕、磨損程度；有時則要測定材料表面的覆蓋層厚度，以保證產品質量和生產安全。根據測定原理的不同，常用測厚儀有超聲、磁性、渦流、同位素等四種。

超聲波測厚儀超聲波在各種介質中的聲速是不同的，但在同一介質中聲速是一常數。超聲波在介質中傳播遇到第二種介質時會被反射，測量超聲波脈衝從發射至接收的間隔時間，即可將這間隔時間換算成厚度。在電力工業中應用最廣的就是這類測厚儀。常用於測定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度，也用於校核工件結構尺寸等。這類測厚儀多是攜帶式的，體積與小型半導體收音機相近，厚度值的顯示多是數字式的。對於鋼材，最大測定厚度達2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之間。

磁性測厚儀在測定各種導磁材料的磁阻時，測定值會因其表面非導磁覆蓋層厚度的不同而發生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用於測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。

渦流測厚儀當載有高頻電流的探頭線圈置於被測金屬表面時，由於高頻磁場的作用而使金屬體內產生渦流，此渦流產生的磁場又反作用於探頭線圈，使其阻抗發生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關，因而根據探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用於測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。

同位素測厚儀利用物質厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。 ^[1] 

測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。

測量注意事項：

⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。

⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。

⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大於這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

⒍測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

⒎在測量時要保持壓力的恆定，否則會影響測量的讀數。

⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附着物質。

1、激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據光切法測量和觀察機械製造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產品的厚度，是一種非接觸式的動態測量儀器。它可直接輸出數字信號與工業計算機相連接，並迅速處理數據並輸出偏差值到各種工業設備。

2、X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，滄州歐譜從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心，採集計算數據並輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，達到要求的軋製厚度。主要應用行業：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業的板帶加工。

3、紙張測厚儀：適用於4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。

4、薄膜測厚儀：用於測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量範圍寬、測量精度高，具有數據輸出、任意位置置零、公英制轉換、自動斷電等特點。

5、塗層測厚儀：用於測量鐵及非鐵金屬基體上塗層的厚度.

6、超聲波測厚儀：超聲波測厚儀是根據超聲波脈衝反射原理來進行厚度測量的，當探頭髮射的超聲波脈衝通過被測物體到達材料分界面時，脈衝被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恆定速度在其內部傳播的各種材料均可採用此原理測量。 ^[2]