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掃描隧道顯微術
鎖定
掃描隧道顯微術是2011年公佈的材料科學技術名詞。
- 中文名稱
- 掃描隧道顯微術
- 英文名稱
- scanning tunnelling microscopy，STM
- 定 義
- 利用量子隧道效應的表面研究技術。能實時、原位觀察樣品最表面層的局域結構信息，能達到原子級的高分辨率。
- 應用學科
- 材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表徵與測試（四級學科）
以上內容由全國科學技術名詞審定委員會審定公佈
掃描隧道顯微術定義
利用量子隧道效應的表面研究技術。能實時、原位觀察樣品最表面層的局域結構信息，能達到原子級的高分辨率。
掃描隧道顯微術出處
《材料科學技術名詞》。
- 參考資料
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- 1. 掃描隧道顯微術 ．術語在線[引用日期2022-12-26]
