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掃描透射電子顯微鏡
鎖定
- 中文名
- 掃描透射電子顯微鏡
- 外文名
- scanning transmission electron microscopy,STEM
- 類 型
- 電子設備
- 用 途
- 觀察
掃描透射電子顯微鏡來源
掃描透射電子顯微鏡是透射電子顯微鏡的一種發展。掃描線圈迫使電子探針在薄膜試樣上掃描,與掃描電子顯微鏡不同之處在於探測器置於試樣下方,探測器接受透射電子束流或彈性散射電子束流,經放大後,在熒光屏上顯示與常規透射電子顯微鏡相對應的掃描透射電子顯微鏡的明場像和暗場像。
掃描透射電子顯微鏡優點
1. 利用掃描透射電子顯微鏡可以觀察較厚的試樣和低襯度的試樣。
2. 利用掃描透射模式時物鏡的強激勵,可以實現微區衍射。
3. 利用後接能量分析器的方法可以分別收集和處理彈性散射和非彈性散射電子。
4. 進行高分辨分析、成像及生物大分子分析。