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掃描探針顯微術
鎖定
掃描探針顯微術是2019年公佈的冶金學名詞。
- 中文名稱
- 掃描探針顯微術
- 英文名稱
- scanning probe microscopy，SPM
- 定 義
- 分辨率在納米量級的測量固體樣品表面實空間形貌的分析方法。根據測量的相互作用類型，可分為掃描隧道顯微術、原子力顯微術、磁力顯微術等。
- 應用學科
- 材料科學技術（一級學科），材料科學技術基礎（二級學科），材料科學基礎（三級學科），材料的表徵與測試（四級學科）
以上內容由全國科學技術名詞審定委員會審定公佈
掃描探針顯微術定義
分辨率在納米量級的測量固體樣品表面實空間形貌的分析方法。根據測量的相互作用類型，可分為：掃描隧道顯微術，原子力顯微術，磁力顯微術等。
掃描探針顯微術出處
《冶金學名詞》。
- 參考資料
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- 1. 掃描探針顯微術 ．術語在線[引用日期2022-12-26]
