成像光譜技術

.推掃式掃描: 又稱“像面”掃描(along-track scanning)，是利用由半導體材料製成的電荷耦合器件(CCD)，組成線陣列或面陣列傳感器，採用廣角光學系統，在整個視場內藉助遙感平台自身的移動，像刷子地一樣掃出一條帶狀軌跡，獲取沿着飛行方向的地面二維圖像。