彼得·B·赫希

彼得·B·赫希爵士FRS（英語：SirPeter Bernhard Hirsch，1925年1月16日－），英國材料科學家，對電子顯微鏡的發展作出了根本性貢獻。

爵士畢業於Sloane School以及劍橋大學聖凱瑟琳學院。1946年他加入卡文迪許實驗室的晶體部門。後來，他對於煤炭結構的分析做出了重要貢獻。

在1950年代他創新地將透射電子顯微鏡(TEM)應用於金屬，發展了詳細的掃描技術理論。在1965年他和Archibald Howie, M.J. Whelan, Pashley and Nicholson,發表了晶體電子顯微的文章。 ^[1] 

後來赫希在牛津大學人任講席教授，1992年退休。他創建了牛津大學的材料科學系。

因為他促進電子顯微鏡的發展，以研究晶體物質的結構，赫希1983年獲沃爾夫物理學獎。1963年當選皇家學會院士，1975年封為騎士。赫希也是牛津大學聖艾德蒙學堂成員之一。

透射電子顯微鏡（英語：Transmission electron microscope，縮寫：TEM、CTEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像將在放大、聚焦後在成像器件（如熒光屏、膠片、以及感光耦合組件）上顯示出來。 ^[1] 

由於電子的德布羅意波長非常短，透射電子顯微鏡的分辨率比光學顯微鏡高的很多，可以達到0.1～0.2nm，放大倍數為幾萬～百萬倍。因此，使用透射電子顯微鏡可以用於觀察樣品的精細結構，甚至可以用於觀察僅僅一列原子的結構，比光學顯微鏡所能夠觀察到的最小的結構小數萬倍。TEM在中和物理學和生物學相關的許多科學領域都是重要的分析方法，如癌症研究、病毒學、材料科學、以及納米技術、半導體研究等等。

在放大倍數較低的時候，TEM成像的對比度主要是由於材料不同的厚度和成分造成對電子的吸收不同而造成的。而當放大率倍數較高的時候，複雜的波動作用會造成成像的亮度的不同，因此需要專業知識來對所得到的像進行分析。通過使用TEM不同的模式，可以通過物質的化學特性、晶體方向、電子結構、樣品造成的電子相移以及通常的對電子吸收對樣品成像。

第一台TEM由馬克斯·克諾爾和恩斯特·魯斯卡在1931年研製，這個研究組於1933年研製了第一台分辨率超過可見光的TEM，而第一台商用TEM於1939年研製成功。

電子顯微鏡（英語：electron microscope，簡稱電鏡或電顯）是使用電子來展示物件的內部或表面的顯微鏡。

高速的電子的波長比可見光的波長短（波粒二象性），而顯微鏡的分辨率受其使用的波長的限制，因此電子顯微鏡的分辨率（約0.2納米）遠高於光學顯微鏡的分辨率（約200納米）。