複製鏈接
請複製以下鏈接發送給好友

多重採樣

鎖定
多重採樣是一種使用更多顏色、深度和模板信息(樣本)對圖元(點,直線,多邊形,位圖,圖像)進行反走樣處理的技術。
中文名
多重採樣
外文名
multiple sampling
定    義
反走樣處理的技術
作用對象
點,直線,多邊形,位圖,圖像
技術簡介
multiple sampling
在多重採樣中,每個片元都有多種顏色,多個深度值和多組紋理座標,而不是隻有一種(具體有多少個取決於子像素的樣本數目)。
多重採樣不像只有一個樣本時那樣,計算是在每個像素的死點(dead center)處進行的,而是分散在多個取樣位置。
多重採樣計算反走樣的覆蓋比例時,不使用表示圖元對像素覆蓋比例的alpha值,而是使用存儲在多重取樣緩存中的樣本。
多重採樣技術多用於對多變性的反走樣處理。這樣做省去了確定物體繪製順序的麻煩。