多步雪崩室

基本以兩級多絲正比室和漂移室為基礎。粒子進入第一個多絲正比室後，陽極絲附近產生氣體電子雪崩放大，稱為預放大。倍增後的電子，有一部分通過柵網狀電極後進入漂移區，並進一步漂移到第二多絲正比室區，在陽極附近又發生電子雪崩放大。這樣從第二級陽極絲輸出的信號就同兩級氣體放大因子的乘積成正比。常在兩級漂移區之間加一個“門控”脈衝電極，選擇適當的時間開門，當雪崩電子到達該電極時恰能通過，以便減少其他雜亂信號。提出多步雪崩室的目的，是為克服當粒子束流很高時 [超過10⁴/（秒·毫米²）]，正離子空間電荷效應（見正比計數器）使得一級多絲正比室的陰陽極間的有效電場降低，且不能施加過高電壓以防電擊穿，因此氣體放 大因子受到限制（≤10⁴）。這樣採用多步雪崩放大方法就可在很高的粒子流強下仍能獲得較大的信號。多步雪崩室有利於在高計數率下 [≥10⁵/（秒·毫米²），時間分辨約10納秒] 測量帶電粒子束流精密位置分佈，也常用以測量切倫科夫探測器輸出的光子和X射線等弱信號。這時需在第一級多絲正比室前加一層轉換體使它們轉換成多絲室能探測的帶電粒子。 ^[1]