地質測量方法

地質測量的精細程度及主要任務取決於比例尺，一般分為小比例尺(1/20萬～1/100分以上)，中比例尺(1/5萬～1/1萬)和大比例尺 (1/5千～1/5百以下)三種。小比例尺圖的填圖單元(被測地質體單元)較大。填圖面積大，地質點及觀測線的間距大。反映區域性地質規律;大比例尺圖的填圖單元劃分很細。地質體的細微特徵均應反映，填圖面積很小，地質點及觀測線間距很小。一般用於礦體、地基及重要地質意義地區。一般在某區進行地質測量時先作小比例尺測量，然後逐步向大比例尺過渡。從第一張地質圖問世以來已有近150年的發展歷史。本法隨着地質基礎科學的發展而前進。遙測遙感技術、計算機技術、地球物理與地球化學技術的引進是本法的發展趨勢。 ^[1]